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国产自主首颗工业传感器测试芯片研制成功_1

发表于:2019-06-09 14:04 作者:新闻小编 来源:新闻小编

  5月8日,据电子元件行业协会消息,2014年4月初,我国第一颗自主设计的ASIC芯片FDC3301由中国航天科工三院33所ASIC试验室研制成功。

  该消息称,ASIC芯片主要用于完成振梁加速度计频率信号的同步连续测量,可直接输出被测信号浮点值频率,主要应用于航空航天传感器频率测量,工业领域测试和测量系统等。此前这一技术主要依赖国外,在国内尚属空白。

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